在儀器測定波長名義值（589nm、 880nm、882nm）上下 10 nm 范圍內(nèi)， 對于衰減比為 10%、1%，其衰減相對 變化不超過±20%。透過率光譜中性 衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響 不超過儀器的最小分度示值。JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量 計(jì)》計(jì)量檢定規(guī)程要求，檢定校準(zhǔn) 自動(dòng)旋光糖量計(jì)低透過率示值誤 差和重復(fù)性時(shí)，對于確實(shí)無法采用 機(jī)械斬波低透過率模擬器時(shí)，采用 的透過率光譜中性衰減模擬器。在儀器測定波長名義值（589nm、 880nm、882nm）上下 10 nm 范圍內(nèi)， 對于衰減比為 10%、1%，其衰減相對 變化不超過±20%。透過率光譜中性 衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響 不超過儀器的最小分度示值。JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量 計(jì)》計(jì)量檢定規(guī)程要求，檢定校準(zhǔn) 自動(dòng)旋光糖量計(jì)低透過率示值誤 差和重復(fù)性時(shí)，對于確實(shí)無法采用 機(jī)械斬波低透過率模擬器時(shí)，采用 的透過率光譜中性衰減模擬器。